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              東芝開發出業界首款2200V雙碳化硅(SiC)MOSFET模塊,助力工業設備的高效率和小型化

              2023-08-29 來源:華強電子網
              1962

              關鍵詞: 東芝 MOSFET

              東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)今日宣布,推出業界首款[1]2200V雙碳化硅(SiC)MOSFET模塊---“MG250YD2YMS3”。新模塊采用東芝第3代SiC MOSFET芯片,其漏極電流(DC)額定值為250A,適用于光伏發電系統和儲能系統等使用DC 1500V的應用。該產品于今日開始支持批量出貨。



              類似上述的工業應用通常使用DC 1000V或更低功率,其功率器件多為1200V或1700V產品。然而,預計未來幾年內DC 1500V將得到廣泛應用,因此東芝發布了業界首款2200V產品。


              MG250YD2YMS3具有低導通損耗和0.7V(典型值)的低漏極-源極導通電壓(傳感器)[2]。此外,它還具有較低的開通和關斷損耗,分別為14mJ(典型值)[3]和11mJ(典型值)[3],與典型的硅(Si)IGBT相比降低了約90%[4]。這些特性均有助于提高設備效率。由于MG250YD2YMS3可實現較低的開關損耗,用戶可采用模塊數量更少的兩電平電路取代傳統的三電平電路,有助于設備的小型化。


              東芝將不斷創新,持續滿足市場對高效率和工業設備小型化的需求。


                應用:

              工業設備

              -     可再生能源發電系統(光伏發電系統等)

              -     儲能系統

              -     工業設備用電機控制設備

              -     高頻DC-DC轉換器等設備


                特性:

              -     低漏極-源極導通電壓(傳感器):

              VDS(on)sense=0.7V(典型值)(ID=250A、VGS=+20V、Tch=25℃)

              -     低開通損耗:

              Eon=14mJ(典型值)(VDD=1100V、ID=250A、Tch=150℃)

              -     低關斷損耗:

              Eoff=11mJ(典型值)(VDD=1100V、ID=250A、Tch=150℃)

              -     低寄生電感:

              LsPN=12nH(典型值)


                主要規格:

              (除非另有說明,Ta=25℃)

              器件型號

              MG250YD2YMS3

              東芝封裝名稱

              2-153A1A

              絕對

              最大

              額定值

              漏源電壓VDSS(V)

              2200

              柵源電壓VGSS(V)

              +25/-10

              漏極電流(DC)ID(A)

              250

              漏極電流(脈沖)IDP(A)

              500

              結溫Tch(℃)

              150

              絕緣電壓Visol(Vrms)

              4000

              電氣

              特性

              漏極-源極導通電壓(傳感器):

              VDS(on)sense(V)

              ID=250A、VGS=+20V、

              Tch=25℃

              典型值

              0.7

              源極-漏極導通電壓(傳感器):

              VSD(on)sense(V)

              IS=250A、VGS=+20V、

              Tch=25℃

              典型值

              0.7

              源極-漏極關斷電壓(傳感器):

              VSD(off)sense(V)

              IS=250A、VGS=-6V、

              Tch=25℃

              典型值

              1.6

              開通損耗

              Eon(mJ)

              VDD=1100V、

              ID=250A、Tch=150℃

              典型值

              14

              關斷損耗

              Eoff(mJ)

              典型值

              11

              寄生電感LsPN(nH)

              典型值

              12

               

              注:

              [1] 采樣范圍僅限于雙SiC MOSFET模塊。數據基于東芝截至2023年8月的調研。

              [2] 測量條件:ID=250A、VGS=+20V、Tch=25℃

              [3] 測量條件:VDD=1100V、ID=250A、Tch=150℃

              [4] 截至2023年8月,東芝對2300V Si模塊和新型SiC MOSFET芯片MG250YD2YMS3開關損耗進行比較(2300V Si模塊的性能值是東芝根據2023年3月或之前發表的論文做出的預估)。